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澤攸科技ZEM系列臺式掃描電子顯微鏡(SEM)憑借其超高的便捷性、創(chuàng)新的技術(shù)設(shè)計、高分辨率成像能力及多樣化的功能拓展,已成為科研與工業(yè)領(lǐng)域微觀分析的重要工具。該系列產(chǎn)品以高度集成化、操作便捷性和廣泛適用性為核心優(yōu)勢,覆蓋了從基礎(chǔ)研究到深層次材料分析的多層次需求。ZEM系列采用多項自主創(chuàng)新技術(shù),例如真空分隔技術(shù),通過電子槍與樣品倉的真空分離設(shè)計,顯著縮短換樣時間,同時支持高真空與低真空模式。
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查看更多ZEM20臺式掃描電鏡原位拉伸一體機由澤攸科技生產(chǎn),具備高分辨率和多功能特性。其加速電壓范圍為3kV至20kV,可進(jìn)行1kV步進(jìn)調(diào)整,最高放大倍率為36萬倍,分辨率可達(dá)5納米。該設(shè)備支持樣品臺減速模式,無需噴金即可觀察弱導(dǎo)電樣品,并配備有超大樣品艙,可集成多種原位拓展平臺。電子槍采用預(yù)對中鎢燈絲設(shè)計,一體化聚光鏡,無需手動調(diào)節(jié)物鏡光闌,可選配LaB6燈絲。此外,它還配備了五軸全自動樣品臺。
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