臺(tái)式掃描電鏡

【產(chǎn)品概述】澤攸科技ZEM系列臺(tái)式掃描電子顯微鏡（SEM）憑借其超高的便捷性、創(chuàng)新的技術(shù)設(shè)計(jì)、高分辨率成像能力及多樣化的功能拓展，已成為科研與工業(yè)領(lǐng)域微觀分析的重要工具。該系列產(chǎn)品以高度集成化、操作便捷性和廣泛適用性為核心優(yōu)勢(shì)，覆蓋了從基礎(chǔ)研究到深層次材料分析的多層次需求。ZEM系列采用多項(xiàng)自主創(chuàng)新技術(shù)，例如真空分隔技術(shù)，通過電子槍與樣品倉的真空分離設(shè)計(jì)，顯著縮短換樣時(shí)間，同時(shí)支持高真空與低真空模式。

產(chǎn)品型號(hào)：ZEM15C
更新時(shí)間：2025-02-18
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廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

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產(chǎn)品詳情

澤攸科技臺(tái)式掃描電鏡ZEM15C

產(chǎn)品介紹

臺(tái)式掃描電鏡

澤攸科技臺(tái)式掃描電鏡ZEM15C是一款緊湊型設(shè)備，采用預(yù)對(duì)中鎢燈絲技術(shù)，簡(jiǎn)化了操作流程，無需復(fù)雜的對(duì)中調(diào)整即可直接拍攝圖像。其集成高壓及控制系統(tǒng)，體積小巧，便于移動(dòng)，只需一張穩(wěn)固的桌子和普通電源即可運(yùn)行。ZEM15C提供5KV、10KV和15KV三種加速電壓選擇，并配備了一體式聚光鏡和預(yù)對(duì)中鎢燈絲電子槍。該設(shè)備具有150000倍的放大倍率，配有四分割背散射探測(cè)器和二次電子探測(cè)器，支持多種成像模式，并能在兩分鐘內(nèi)實(shí)現(xiàn)高真空狀態(tài)，適用于材料科學(xué)、生物學(xué)和納米技術(shù)等領(lǐng)域的研究。最大樣品尺寸為直徑50毫米、高度35毫米，樣品臺(tái)可移動(dòng)范圍為25毫米×25毫米。

臺(tái)式掃描電鏡