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【產(chǎn)品概述】澤攸科技ZEM系列臺式掃描電子顯微鏡(SEM)憑借其超高的便捷性、創(chuàng)新的技術(shù)設(shè)計(jì)、高分辨率成像能力及多樣化的功能拓展,已成為科研與工業(yè)領(lǐng)域微觀分析的重要工具。該系列產(chǎn)品以高度集成化、操作便捷性和廣泛適用性為核心優(yōu)勢,覆蓋了從基礎(chǔ)研究到深層次材料分析的多層次需求。ZEM系列采用多項(xiàng)自主創(chuàng)新技術(shù),例如真空分隔技術(shù),通過電子槍與樣品倉的真空分離設(shè)計(jì),顯著縮短換樣時(shí)間,同時(shí)支持高真空與低真空模式。
產(chǎn)品詳情
ZEM Ultra場發(fā)射臺式掃描電鏡
產(chǎn)品介紹
ZEM Ultra 臺式掃描電鏡采用肖特基場發(fā)射電子源,三級獨(dú)立真空設(shè)計(jì),優(yōu)于2.5nm的分辨率滿足多數(shù)樣品微納結(jié)構(gòu)表征需求。標(biāo)配大束流及大樣品倉,支持原位功能樣品臺及EDS/EBSD拓展。
產(chǎn)品特色
▲ 全自動操作
▲ 肖特基場發(fā)射電子槍
▲ 高穩(wěn)定性
▲ 高分辨觀測
▲ 豐富拓展
▲ 易用性強(qiáng)
產(chǎn)品參數(shù)
圖像像素尺寸(默認(rèn)):512*512(視頻)2048*2048(拍照)
燈絲類型:場發(fā)射燈絲
電動樣品臺:XY二軸/XYZ三軸/XYT三軸/五軸
探測器類型:BSE、SE、EDS
減速模式:選配(0-10kv樣品臺電壓減速)
應(yīng)用案例
金顆粒150000X (左)碳納米管 20000X(右)
磷酸鐵鋰 30000X(左)二氧化硅 100000X(右)
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