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【產(chǎn)品概述】澤攸科技ZEM系列臺式掃描電子顯微鏡(SEM)憑借其超高的便捷性、創(chuàng)新的技術設計、高分辨率成像能力及多樣化的功能拓展,已成為科研與工業(yè)領域微觀分析的重要工具。該系列產(chǎn)品以高度集成化、操作便捷性和廣泛適用性為核心優(yōu)勢,覆蓋了從基礎研究到深層次材料分析的多層次需求。ZEM系列采用多項自主創(chuàng)新技術,例如真空分隔技術,通過電子槍與樣品倉的真空分離設計,顯著縮短換樣時間,同時支持高真空與低真空模式。
產(chǎn)品詳情
澤攸科技臺式掃描電鏡能譜一體機
產(chǎn)品介紹
ZEM20臺式掃描電鏡原位拉伸一體機是一款分辨率高、功能豐富的臺式掃描電鏡。采用更加寬泛的加速電壓,1KV步進,最高放大36萬倍,分辨率可達nm。在樣品臺減速模式下,弱導電樣品無需噴金也能實時觀察。超大樣品倉可集成多種原位拓展平臺,滿足不同實驗及檢測需求。
▲ 集成OxfordXploreCompact30能譜分析系統(tǒng)SuperATW窗口30mm2面積活區(qū)
▲ 分辨率優(yōu)于129eV(MnKα處)無需液氮冷卻
▲ 分析元素范圍:B5-Cf98
▲ 點、線、面掃描分析
▲ 全中文軟件操作界面(中英文切換功能)
▲ 真空分隔技術:采用真空設計,電子槍和樣品倉真空分離,換樣時間小于1min。
▲ 超大樣品倉:提供了更大的樣品存儲空間,方便用戶操作。
▲ 超高分辨率:極限放大倍數(shù)達到36萬倍,分辨率4nm@20kV。
▲ 選配減速模式:允許弱導電樣品在不噴金的情況下進行觀察。
▲ 倉內(nèi)攝像頭:樣品倉內(nèi)置高清攝像頭,原位實驗時可實時監(jiān)測樣品原位變化。
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