臺(tái)式掃描電鏡

【產(chǎn)品概述】澤攸科技ZEM系列臺(tái)式掃描電子顯微鏡（SEM）憑借其超高的便捷性、創(chuàng)新的技術(shù)設(shè)計(jì)、高分辨率成像能力及多樣化的功能拓展，已成為科研與工業(yè)領(lǐng)域微觀分析的重要工具。該系列產(chǎn)品以高度集成化、操作便捷性和廣泛適用性為核心優(yōu)勢(shì)，覆蓋了從基礎(chǔ)研究到深層次材料分析的多層次需求。ZEM系列采用多項(xiàng)自主創(chuàng)新技術(shù)，例如真空分隔技術(shù)，通過(guò)電子槍與樣品倉(cāng)的真空分離設(shè)計(jì)，顯著縮短換樣時(shí)間，同時(shí)支持高真空與低真空模式。

產(chǎn)品型號(hào)：ZEM20
更新時(shí)間：2025-02-18
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廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

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產(chǎn)品詳情

澤攸科技臺(tái)式掃描電鏡ZEM20

產(chǎn)品介紹

臺(tái)式掃描電鏡

ZEM20臺(tái)式掃描電鏡由澤攸科技生產(chǎn)，具備高分辨率和多功能特性。其加速電壓范圍為3kV至20kV，可進(jìn)行1kV步進(jìn)調(diào)整，最高放大倍率為36萬(wàn)倍，分辨率可達(dá)5納米。該設(shè)備支持樣品臺(tái)減速模式，無(wú)需噴金即可觀察弱導(dǎo)電樣品，并配備有超大樣品艙，可集成多種原位拓展平臺(tái)。電子槍采用預(yù)對(duì)中鎢燈絲設(shè)計(jì)，一體化聚光鏡，無(wú)需手動(dòng)調(diào)節(jié)物鏡光闌，可選配LaB6燈絲。此外，它還配備了五軸全自動(dòng)樣品臺(tái)，樣品倉(cāng)尺寸為185mm x 176mm x 125mm，具備高真空和低真空兩種模式。該設(shè)備適用于各種科學(xué)研究和檢測(cè)工作。

臺(tái)式掃描電鏡