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查看更多PicoFemto NI-100掃描電鏡納米力學(xué)樣品臺(tái)是澤攸科技推出的一款專注于材料變形行為和微觀失效機(jī)制研究的科研設(shè)備。該系統(tǒng)作為一款集成化的解決方案,能夠精確量化微納米級(jí)材料的力學(xué)特性,并通過與掃描電鏡(SEM)結(jié)合使用,實(shí)現(xiàn)對(duì)材料在不同應(yīng)力狀態(tài)下的原位觀測(cè)。這使得研究人員能夠在納米尺度上觀察到材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)的變化,為深入理解材料的本質(zhì)提供了有力支持。
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