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查看更多PicoFemto系列透射電鏡原位加熱/電學(xué)樣品桿,基于MEMS原位芯片技術(shù),通過(guò)更換多種類型的加熱芯片或電學(xué)芯片,在透射電鏡中實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品加熱或加電的原位功能。
查看更多PicoFemto系列透射電鏡原位力學(xué)樣品桿,基于TEM-STM樣品桿技術(shù),集成力測(cè)量功能,對(duì)樣品進(jìn)行壓縮/拉伸過(guò)程可實(shí)時(shí)輸出力-位移曲線,支持力-電同時(shí)測(cè)量。
查看更多PicoFemto系列透射電鏡原位多場(chǎng)耦合樣品桿,結(jié)合TEM+STM+MEMS原位技術(shù),通過(guò)更換不同類型的原位芯片及探針,在透射電鏡中實(shí)現(xiàn)光、電、力、熱多種原位功能。
查看更多原位冷凍樣品桿系列是一款專為透射電子顯微鏡(TEM)設(shè)計(jì)的實(shí)驗(yàn)工具,旨在滿足材料科學(xué)、生命科學(xué)等領(lǐng)域?qū)Φ蜏丨h(huán)境下樣品表征的需求。該系列產(chǎn)品基于標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿,通過(guò)集成先進(jìn)的液氮杜瓦等冷凍模塊,使樣品能夠在低溫環(huán)境中進(jìn)行觀測(cè),從而顯著降低電子束輻照對(duì)樣品的損傷,同時(shí)為研究材料的低溫結(jié)構(gòu)和特性提供了理想的條件。澤攸科技憑借其真空導(dǎo)冷和低溫絕熱技術(shù),確保了系統(tǒng)的性能。
查看更多原位MEMS加熱/電學(xué)樣品桿系列是一款專為透射電子顯微鏡(TEM)設(shè)計(jì)的實(shí)驗(yàn)工具,旨在滿足納米材料、能源科學(xué)及電子器件研究領(lǐng)域?qū)υ粍?dòng)態(tài)表征的需求。該系列產(chǎn)品基于標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿,通過(guò)集成MEMS芯片技術(shù),實(shí)現(xiàn)了對(duì)單個(gè)納米結(jié)構(gòu)的精確溫度調(diào)控和電學(xué)測(cè)量功能。在實(shí)驗(yàn)過(guò)程中,用戶不僅可以對(duì)樣品進(jìn)行可控加熱,還能實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)其電學(xué)特性,同時(shí)結(jié)合透射電鏡及相關(guān)附件。
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